The 63rd JSAP Spring Meeting, 2016

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Oral presentation

13 Semiconductors » 13.8 Compound and power electron devices and process technology

[21p-W541-1~12] 13.8 Compound and power electron devices and process technology

Mon. Mar 21, 2016 1:45 PM - 5:00 PM W541 (W5)

Kenji Shiojima(Univ. of Fukui), Kozo Makiyama(Fujitsu Lab.)

1:45 PM - 2:00 PM

[21p-W541-1] Correlation between Off-Breakdown and EL Emission in AlGaN/GaN HEMTs

〇(M1)Satoshi Yoshida1, Shintaro Ohi1, Taisei Yamazaki1, Joel Asubar1, Hirokuni Tokuda1, Masaaki Kuzuhara1 (1.University of Fukui)

Keywords:AlGaN/GaN HEMT,EL Emission,Off-Breakdown Voltage

AlGaN/GaN HEMT は低損失パワースイッチングデバイスとして期待されている。オフ状態のHEMTに高ドレイン電圧を印加すると、ゲート・ドレイン電極間でのEL発光が報告されている。我々は前回、発光色と電流コラプスとの相関について報告した。今回、ドレイン電極の形状を周期的に変化させたHEMTを試作し、オフ耐圧とEL発光との相関について調べたので報告する。