[21p-W833-1~13] 11.4 アナログ応用および関連技術

[21p-W833-6] STM-SQUID顕微鏡の距離変調による試料表面上の局所磁場計測

〇宮戸 祐治¹、芦塚 拓也¹、糸崎 秀夫¹ (1.阪大院基礎工)

キーワード：SQUID、走査プローブ顕微鏡、磁場像

走査トンネル顕微鏡(STM)とrf-SQUIDとを組み合わせたSTM-SQUID顕微鏡において、SQUID出力をそのまま磁場像として画像化すると、試料遠方の背景磁場の影響を受け、不鮮明になることがあった。そこで、磁場測定時にプローブ・試料間距離を変調することで、試料極近傍の磁場を選択的にロックイン検出し、変調磁場像を得た。この結果、通常の磁場像と比較して明瞭な磁場像が得られた。