2016年第63回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

6 薄膜・表面 » 6.6 プローブ顕微鏡

[22a-H113-1~8] 6.6 プローブ顕微鏡

2016年3月22日(火) 10:00 〜 12:00 H113 (本館)

吉田 昭二(筑波大)

11:00 〜 11:15

[22a-H113-5] 走査型非線形誘電率ポテンショメトリによる表面自発分極の測定に関する検討

山末 耕平1、長 康雄1 (1.東北大通研)

キーワード:走査型非線形誘電率顕微鏡、自発分極、永久双極子

走査型非線形誘電率ポテンショメトリ(SNDP)は走査型非線形誘電率顕微鏡(SNDM)の動作モードの一種であり,表面や界面に存在する自発分極の誘起する電位をナノスケールで定量的に測定可能である.本講演では,SNDPによる測定電位が探針-試料表面間距離に依存して変化することを示し,その依存性から表面自発分極が定量的に得られる可能性を明らかにする.