Halubai Sekhar

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発表者・著者、共著者

2017年9月5日(火) 09:00 〜 12:00 A204 (204)

一般セッション(口頭講演)
| 16 非晶質・微結晶
| 16.3 シリコン系太陽電池

[5a-A204-1~11] 16.3 シリコン系太陽電池

10:30 〜 10:45

▲ [5a-A204-7] Measuring subsurface damage in diamond wire sawn mono-crystalline Silicon (120 µm) wafers using Raman spectroscopy

〇(P)Halubai Sekhar¹、Tetsuo Fukuda¹、Katsuto Tanahashi¹、Katsuhiko Shirasawa¹、Hidetaka Takato¹ (1.Fukushima Renewable Energy Institute, AIST)