13:30 〜 15:30 [6p-PA7-5] 偏光ラマン測定を用いたGaAsN薄膜のアニール処理が及ぼす影響の評価 〇和田 季己1、橋本 英明1、横山 祐貴1、前田 幸治1、鈴木 秀俊1 (1.宮崎大工)