2017年第78回応用物理学会秋季学術講演会

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CS コードシェアセッション » 【CS.9】7.1 X線技術と7.4 量子ビーム界面構造計測のコードシェアセッション

[5a-S44-1~11] 【CS.9】7.1 X線技術と7.4 量子ビーム界面構造計測のコードシェアセッション

2017年9月5日(火) 09:00 〜 12:00 S44 (第5会議室)

豊田 光紀(東北大)

09:30 〜 09:45

[5a-S44-3] Photon Factory BL-11D の波長 13.5 nm における 2 次光評価

羽多野 忠1 (1.東北大多元研)

キーワード:高次光、分光器、多層膜ミラー

Photon FactoryのBL-11DはEUV-軟X線領域の光学素子評価ビームラインであり、定量性の高い計測のために高次光が少ないことが要求される。特にEUVLで使用される波長13.5 nmが重要である。187 eV (6.6 nm)に反射ピークを持つLa/C多層膜の反射率測定を93.5 eV (13.3 nm)で実施した。2次光が含まれている場合に測定される反射ピーク信号が実測値では見られなかった。このことはBL-11Dでは93.5 eV付近で2次光はほとんど含まれていないことを示す。