2017年第78回応用物理学会秋季学術講演会

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[5p-PA1-1~82] 17 ナノカーボン(ポスター)

2017年9月5日(火) 13:30 〜 15:30 PA1 (国際センター1F)

13:30 〜 15:30

[5p-PA1-65] 層状物質電界効果トランジスタの高性能化のためのゲート界面改質

原田 恭介1、上野 啓司1 (1.埼玉大院理工)

キーワード:層状物質、原子層堆積、高誘電率ゲート酸化膜

バンドギャップを持ち,表面が平坦かつ不活性な層状物質である遷移金属ダイカルコゲナイドを電界効果トランジスタのチャネル層として用いることが検討されている。一方,高誘電率絶縁膜の成長手法として,原子層堆積(ALD)法が注目されている。本研究では,層状物質チャネル上にALD成長した絶縁膜の構造解析を行った。MoSe2上に直接ALD成長した絶縁膜は不均一であったが,ポリビニルアルコールのバッファー層上では均一な膜が得られた。