[5p-PA3-1~46] 12.5 有機太陽電池

[5p-PA3-3] 光照射下での金属/フラーレン界面における蓄積電荷測定

〇大塚 理人¹、谷村 利精¹、荻野 晃成¹、角屋 智史¹、佐藤 井一¹、横松 得滋²、前中 一介²、山田 順一¹、田島 裕之¹ (1.兵庫県大物質理、2.兵庫県大工)

キーワード：電荷注入障壁、有機半導体、フラーレン

最近、我々は蓄積電荷法(ACM)による電荷注入障壁測定法を発表した。この手法ではトンネル効果を利用してschottky接合を持つ素子への電荷注入を行っている。しかしながら、接合障壁の大きな試料の場合、トンネル効果を用いた電荷注入は困難になり、電荷注入障壁の見積もりに成功していない。そこで本研究では、トンネルキャリア注入の代わりに光キャリア注入による蓄積電荷測定を試みた。本発表ではフラーレンについて調べた結果を報告する。