16:00 〜 18:00
[5p-PA3-4] 光照射によるH2Pcの蓄積電荷測定
キーワード:電荷注入障壁
有機薄膜デバイス作成において、物質界面に生じる電荷注入障壁は重要なパラメータである。これに対して、蓄積電荷測定(ACM)による注入障壁決定法について、我々は報告した。この手法は実デバイスに近い状態での測定である。現状の実験では、暗状態でキャリア注入をしており、障壁が大きい場合は電荷注入が不完全で障壁決定が不正確になるという問題があった。本研究では光を利用してキャリア注入を促進した実験を試みた。