[6a-A504-1~9] 12.2 Characterization and Materials Physics

[6a-A504-3] Crystal Structure Analyses of Organic Semiconductor Thin Films with Variable-temperature Two-dimensional Grazing Incidence X-ray Diffraction

〇(DC)RYO ABE¹, Min-Cherl Jung¹, Hirotaka Kojima¹, Mamoru Kikuchi², Takeshi Watanabe³, Tomoyuki Koganezawa³, Ichiro Hirosawa³, Noriyuki Yoshimoto², Hiroaki Benten¹, Masakazu Nakamura¹ (1.NAIST, 2.Iwate Univ., 3.JASRI)

Keywords:organic semiconductor thin film, giant Seebeck effect, variable-temperature two-dimensional grazing Incidence X-ray diffraction

有機低分子半導体薄膜では隣接分子間のファンデルワールス相互作用が弱く結晶構造が温度によって比較的容易に変調される。その結果、分子間でπ軌道の重なりが変化し、キャリア輸送性が大きく変化する。とりわけ、薄膜の構造は基板による影響のため、単結晶の構造とは異なる。本研究では、シンクロトロンX線源を用いて温度変調2D-GIXD測定を行い、逆格子空間マッピング法による解析から有機低分子薄膜の格子パラメータを評価する。