[6a-A504-1~9] 12.2 評価・基礎物性

[6a-A504-3] 温度可変2次元すれすれ入射X線回折を利用した巨大ゼーベック効果を発現する有機熱電材料の薄膜構造解析

〇(DC)阿部 竜¹、鄭 敏喆¹、小島 広孝¹、菊池 護²、渡辺 剛³、小金澤 智之³、廣沢 一郎³、吉本 則之²、辨天 宏明¹、中村 雅一¹ (1.奈良先端大物質、2.岩手大工、3.高輝度光科学研究センター)

キーワード：有機半導体薄膜、巨大ゼーベック効果、温度可変2次元すれすれ入射X線回折

有機低分子半導体薄膜では隣接分子間のファンデルワールス相互作用が弱く結晶構造が温度によって比較的容易に変調される。その結果、分子間でπ軌道の重なりが変化し、キャリア輸送性が大きく変化する。とりわけ、薄膜の構造は基板による影響のため、単結晶の構造とは異なる。本研究では、シンクロトロンX線源を用いて温度変調2D-GIXD測定を行い、逆格子空間マッピング法による解析から有機低分子薄膜の格子パラメータを評価する。