[6a-C24-1~9] 6.6 Probe Microscopy

△ [6a-C24-4] Study on the contact potential difference on measurement of the Casimir force

〇Naoki Yoshida^1,2, Kazuhiko Higashino¹, Satoshi Hiura¹, Agus Subagyo¹, Eiji Hatta¹, Kazuhisa Sueoka¹ (1.GSIST, Hokkaido Univ., 2.JSPS Research Fellow DC)

Keywords:Casimir effect, Atomic Force Microscopy, Intermolecular forces

近年の微細加工技術の発展に伴い、ナノスケールで働く力の研究が盛んに行われている。この領域で特に注目を集めている力の一つにカシミール力がある。本研究では原子間力顕微鏡により取得した周波数シフトの距離依存性の結果からAu球形探針-Si試料間に働くカシミール力を算出し、静電気力の影響が最小となるバイアス電圧を決定するのに適した測定法について議論を行う。