The 78th JSAP Autumn Meeting, 2017

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Oral presentation

6 Thin Films and Surfaces » 6.6 Probe Microscopy

[6a-C24-1~9] 6.6 Probe Microscopy

Wed. Sep 6, 2017 9:30 AM - 11:45 AM C24 (C24)

Takeshi Fukuma(Kanazawa Univ.)

10:45 AM - 11:00 AM

[6a-C24-6] Fabrication and characterization of epitaxial Cr films tip

Shin Takada1, Keito Omi1, Satoshi Hiura1, Agus Subagyo1,2, Eiji Hatta1, Kazuhisa Sueoka1 (1.GSIST Hokkaido Univ., 2.CRIS, Hokkaido Univ.)

Keywords:STM, tip

スピン偏極走査トンネル顕微分光用探針を作るために,MgO(001)基板上にエピタキシャル成長させたCr(001)薄膜を微細加工により探針化した。Cr(001)/MgO(001)薄膜は層状反強磁性体特性を有することから,探針先端のスピン方向の制御が可能であり,バルクCr探針よりも結晶性の良い探針の作製が可能と期待できる。曲率半径が50 nm程度のCr探針が得られており,Si(111)-(7×7)再構成表面およびCr(001)単結晶表面を観察した結果原子分解能像およびスピン像が得られた。