[6a-S41-1~11] 【CS.9】7.1 X線技術と7.4 量子ビーム界面構造計測のコードシェアセッション

[6a-S41-7] [7.ビーム応用　分科内招待講演] 共鳴軟X線回折による薄膜試料の電子状態観測

〇山﨑 裕一^1,2 (1.物材機構MaDIS、2.理研CEMS)

キーワード：X線回折、薄膜、スキルミオン