[6a-S44-1~10] 9.2 ナノワイヤ・ナノ粒子

[6a-S44-5] TEM観察下でのFM-AFMを用いた金ナノ接点のヤング率測定

〇石塚 慧介¹、村上 拓²、大島 義文¹、富取 正彦¹、新井 豊子² (1.北陸先端大先端、2.金沢大院自然)

キーワード：ナノ接点、ヤング率、寸法効果