The 78th JSAP Autumn Meeting, 2017

Presentation information

Oral presentation

15 Crystal Engineering » 15.6 Group IV Compound Semiconductors (SiC)

[6p-A201-1~20] 15.6 Group IV Compound Semiconductors (SiC)

Wed. Sep 6, 2017 1:30 PM - 7:00 PM A201 (201)

Shunta Harada(Nagoya Univ.), Masashi Kato(NITech), Takeshi Mitani(AIST)

6:15 PM - 6:30 PM

[6p-A201-18] Variation of luminescence intensity of color centers in SiC p+nn+ diodes due to bias voltage

Tomoya Honda1,2, Hiroki Tsunemi1,2, Kazutoshi Kojima3, Shin-ichiro Sato2, Takahiro Makino2, Shinobu Onoda2, Yasuto Hjikata1, Takeshi Ohshima2 (1.Saitama Univ., 2.QST, 3.AIST)

Keywords:silicon carbide, color center

SiC中の点欠陥を利用し、単一で固有の光子を規則的に生成する単一光子源(SPS)の生成や、スピンを利用した量子センシングへの応用が注目されている。これまでに我々は、SiC pnダイオードの電極近傍で電流注入や光励起によって室温動作する高輝度SPSを発見しているが物性は未解明な部分が多い。本研究では、プレーナー型SiC p+nn+ダイオードを作製し、デバイスへのバイアス電圧印加がSPSの発光特性に及ぼす影響について調べた。