The 78th JSAP Autumn Meeting, 2017

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Oral presentation

15 Crystal Engineering » 15.7 Crystal evaluation, impurities and crystal defects

[6p-A503-1~12] 15.7 Crystal evaluation, impurities and crystal defects

Wed. Sep 6, 2017 1:45 PM - 5:00 PM A503 (503)

Yutaka Ohno(Tohoku Univ.), Hiroaki Kariyazaki(GWJ), Satoko Nakagawa(GWJ)

4:45 PM - 5:00 PM

[6p-A503-12] Efficient mapping by a data-driven approach (3): Study of moving distance of the point

Kentaro Kutsukake1, Ryota Kikuchi2, Yutaka Ohno1, Koji Shimoyama2 (1.IMR, Tohoku Univ., 2.IFS, Tohoku Univ.)

Keywords:mapping, data science, optimization

試料表面上の測定位置などを変えて物理量の分布を求めるマッピング測定は、理工研究では極めて基礎的な測定である。我々は、より少ない測定点数からより確からしい物理量分布を得ることを目指し、データ科学的手法を用いてマッピング中に測定データを解析し測定座標を逐次に決定する、適応的なマッピングを提案している。本発表では、測定点移動距離についての検討結果を報告する。