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[7a-A301-4] RF-MBE法を用いたInN成長におけるN*照射の影響
キーワード:InN、MBE、PL
高品質な結晶を得るための手法として、原料交互供給により layer-by-layer 成長が可能な MEE 法が提案され、GaAs結晶成長などに適用されている。しかしながら、InN成長ではV族元素としてNを活性なラジカルの状態で供給する必要があり、このとき、N*が成長表面に照射ダメージを与えている可能性がある。本研究では、RF-MBEを用いたInN成長におけるN*照射の影響について調べた。