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[7a-A414-3] SドープInPバルクのスピン緩和
キーワード:スピン緩和、ポンププローブ法、SドープInP
本研究では、時間分解ポンププローブ反射計測により、SドープInPバルクのキャリア緩和及びスピン緩和を観測し、以前報告したノンドープInPバルクの結果と比較した。10 KでのSドープInPバルクのキャリア緩和時間は7.10 psと137 psであり、スピン緩和時間は18.7 psであった。不純物が関与するスピン緩和機構であるElliot-Yafet効果が働いていると考えられる。