[7a-C24-1~10] 6.6 Probe Microscopy

[7a-C24-4] Investigation of surface potentials in reduced graphene oxide flake by KFPM

〇Ryouta Negishi¹, Kai Takashima¹, Yoshihiro Kobayashi¹ (1.Osaka Univ.)

Keywords:graphenen oxide, reduction, surface potential

酸化グラフェン（GO）の電子デバイスへの応用では、金属材料とのコンタクト抵抗低減に向けて還元したGO薄膜の仕事関数を解明することが重要である。還元したGOでは、その処理条件により欠陥や残存酸素量が大きく異なり、仕事関数に影響するものと考えられる。本研究では、ケルビンプローブフォース顕微鏡およびラマン分光法を用いて、様々な処理条件により得られたGOフレークの表面電位と結晶性の相間について調べた。