[7a-C24-1~10] 6.6 プローブ顕微鏡

[7a-C24-4] ケルビンフォースプローブ顕微鏡による還元した酸化グラフェン薄膜の表面電位観察

〇根岸 良太¹、高島 快¹、小林 慶裕¹ (1.阪大院工)

キーワード：酸化グラフェン、還元、表面電位

酸化グラフェン（GO）の電子デバイスへの応用では、金属材料とのコンタクト抵抗低減に向けて還元したGO薄膜の仕事関数を解明することが重要である。還元したGOでは、その処理条件により欠陥や残存酸素量が大きく異なり、仕事関数に影響するものと考えられる。本研究では、ケルビンプローブフォース顕微鏡およびラマン分光法を用いて、様々な処理条件により得られたGOフレークの表面電位と結晶性の相間について調べた。