2017年第78回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

シンポジウム(口頭講演)

シンポジウム » IV族系半導体の製膜と低温結晶化(固相結晶化を中心に)

[7p-C18-1~11] IV族系半導体の製膜と低温結晶化(固相結晶化を中心に)

2017年9月7日(木) 13:30 〜 18:30 C18 (C18)

野口 隆(琉球大)、松尾 直人(兵庫県立大)、東 清一郎(広島大)

18:15 〜 18:30

[7p-C18-11] クロージングリマーク:Ⅳ族半導体薄膜の低温固相結晶化

松尾 直人1 (1.兵庫県立大学)

キーワード:低温固相結晶化

薄膜結晶化法の支配因子は成長温度,成長膜と基板との界面状態,雰囲気,が挙げられ,結晶化した薄膜特性因子として,粒径,格子欠陥密度,膜剥がれ頻度,が挙げられる。固相に絞ると位置制御性も重要支配因子になる。結晶化法と結晶化薄膜を有機的に繋げる根底にあるものが結晶化ダイナミクスである。CVD-Si薄膜結晶化法1,2)は成長温度,基板界面,雰囲気が重要因子,位置制御SPC3),金属ナノ触媒4),金属触媒5)を用いた結晶化は成長温度,位置制御性,が重要因子と考えられる。結晶核形成の動力学と位置制御6),安定相と準安定相の競合7),は結晶化機構の議論である。