10:30 〜 10:45 [16a-213-5] 放射光を用いたアモルファスGe-S系のX線回折測定ーGe組成変化による局所構造の変化 〇坂口 佳史1、花島 隆泰1、尾原 幸治2、Mitkova Maria3 (1.CROSS、2.JASRI、3.ボイジー州立大学)