16:00 〜 18:00 [15p-P15-17] FinFETデバイスにおける放射線誘起電荷の収集過程解析 〇安部 晋一郎1、佐藤 達彦1、加藤 貴志2、松山 英也2 (1.原子力機構、2.ソシオネクスト)