13:30 〜 15:30 [16p-P6-9] Photo-CELIV法による液晶性フタロシアニン薄膜の正孔移動度評価 〇西川 裕己1、池原 成拓1、藤田 健斗1、藤井 彰彦1、尾﨑 雅則1 (1.阪大院工)