13:30 〜 15:30 [15p-P8-4] Ge薄膜/Si基板構造におけるドーパントの安定性に与える背景電荷と平面応力の影響 〇稲垣 淳1、末岡 浩治2 (1.岡山県大院情報系工、2.岡山県大情報工)