12:15 〜 12:30 [16a-F201-12] CIGSモジュールのDamp Heat試験およびPID試験:IEC規格へのバイアス電圧印加オプションの追加 〇櫻井 啓一郎1、小川 錦一1、柴田 肇1、増田 淳1、冨田 仁2、シュミッツ ダーシャン2、徳田 修二2 (1.産総研、2.ソーラーフロンティア)