過去のプログラムはこちら
English
ご利用ガイド
アカウント登録 / ログイン
TOP
>
喜多 浩之
開催情報
総合案内
会場・アクセス案内
プログラム(紙版)
日程表(分科別)
日程表(会場別)
シンポジウム
ランチョンセミナー
参加予約申込(2/20締切)
連絡先
English Sessions
大会公式アプリのご案内
お知らせ
プログラム
タイムテーブル
セッション一覧
講演検索
展示会
出展者一覧
出展者検索
出展者からのお知らせ
喜多 浩之
→
Google ScholarでKoji Kitaを検索
発表者・著者、共著者
2017年3月16日(木) 13:45 〜 18:30
502 (502)
シンポジウム(口頭講演)
| シンポジウム
| 先進パワーデバイスのプロセス技術
[16p-502-1~10] 先進パワーデバイスのプロセス技術
14:45 〜 15:15
[16p-502-3] 4H-SiC MOS界面特性の制御のための熱酸化プロセスの設計
〇
喜多 浩之
1
(1.東大院工)
▲