山岸裕史

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発表者・著者、共著者

2017年3月17日(金) 09:00 〜 12:15 301 (301)

一般セッション(口頭講演)
| 15 結晶工学
| 15.6 IV族系化合物（SiC）

[17a-301-1~12] 15.6 IV族系化合物（SiC）

09:15 〜 09:30

[17a-301-2] 電流計測AFMとSNDMによるSiO₂/4H-SiC界面の不均一性評価

〇山岸裕史¹、茅根慎通¹、長康雄¹ (1.東北大通研)