[14a-213-1~12] 6.4 薄膜新材料

[14a-213-8] XPSによるGaGdAs:Si多層膜の電子状態分析

〇佐野 翼¹、加藤 昇¹、宮川 勇人¹、高橋 尚志¹ (1.香川大)

キーワード：X線光電子分光法