2017年第64回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

12 有機分子・バイオエレクトロニクス » 12.2 評価・基礎物性

[14a-311-1~12] 12.2 評価・基礎物性

6.6と12.2のコードシェアセッションあり

2017年3月14日(火) 09:00 〜 12:15 311 (311)

村田 昌樹(ソニー)、但馬 敬介(理研)

10:45 〜 11:00

[14a-311-7] イオン液体種に強く依存した界面構造形成と電気二重層FETのキャリア移動度の相関

大野 桜子1、名藤 広晃1、阪本 康太1、今西 哲士1、田邉 一郎1、竹谷 純一2、〇福井 賢一1 (1.阪大院基礎工、2.東大院新領域)

キーワード:イオン液体、電解効果トランジスタ、電気二重層

これまで,π積層した列に沿ったホールの移動度が高いルブレンとイオン液体のEDL界面について,BMIM-TFSIを用いたEDL-FETデバイスは1日の時間スケールで作製直後よりもホール移動度が増加するのに対して, EMIM-FSIを用いると,ルブレンの顕著な構造変化がないにも関わらずホール移動度が急激に減少する現象を見出した。また,正のゲート電圧を印加することによって界面二重層がリセットされ,移動度が一時的に回復することも分かった。