[14p-302-1~17] 12.4 Organic light-emitting devices and organic transistors

△ [14p-302-6] Degradation Analysis of OLED by Fourier Transform Ion Cyclotron Mass Spectrometry

〇Saki Shigematsu¹, Akio Miyasato¹, Heisuke Sakai¹, Hideyuki Murata¹ (1.JAIST Univ.)

Keywords:OLED, Analysis

本研究では、有機EL 材料をLDI法とESI 法を用いてイオン化し、フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴質量(FT-ICR-MS)分析法で測定した。その結果、イオン化法によって異なったMS スペクトルが得られた。このことを利用して劣化後の有機EL 素子中で生じる劣化反応を推定できることが分かった。さらに、劣化前後の有機EL素子の抽出物をESI法でイオン化しFT-ICR-MSを用いて測定したところ、劣化の進行に伴って増加するMSピークを確認できたので報告する。