The 64th JSAP Spring Meeting, 2017

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Oral presentation

13 Semiconductors » 13.8 Compound and power electron devices and process technology

[14p-315-1~15] 13.8 Compound and power electron devices and process technology

Tue. Mar 14, 2017 1:15 PM - 5:15 PM 315 (315)

Kenji Shiojima(Univ. of Fukui), Kozo Makiyama(Fujitsu Lab.)

4:30 PM - 4:45 PM

[14p-315-13] Effects of Dipole Scattering on Electron Transport in Gallium Nitride-based HEMT

〇(B)Tomoki Hoshino1, Nobuya Mori1 (1.Osaka Univ.)

Keywords:GaN, HEMT, montecalro

AlGaN/GaNなどのヘテロ構造では,分極電荷により,アンドープでも高濃度の2次元電子ガス(2DEG)が生じ,それを利用した高電子移動度トランジスタ(HEMT)が,高速・高耐圧デバイスとして注目されている.しかし,AlGaNなどの混晶半導体では,分極電荷を作り出す双極子が空間的にランダムに存在するため,電子散乱の原因となる.本研究では,GaNチャネルおよびInGaNチャネルHEMTの電子輸送特性に,ランダム双極子散乱が及ぼす影響について理論的に調べた.