2017年第64回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

6 薄膜・表面 » 6.6 プローブ顕微鏡

[14p-414-1~17] 6.6 プローブ顕微鏡

6.6と12.2のコードシェアセッションあり

2017年3月14日(火) 13:15 〜 17:45 414 (414+415)

杉本 宜昭(東大)、久保 理(阪大)

13:45 〜 14:00

[14p-414-3] 走査型非線形誘電率ポテンショメトリを用いたGaN の自発分極測定に関する実験的検討

山末 耕平1、長 康雄1 (1.東北大通研)

キーワード:走査型非線形誘電率顕微鏡、走査型非線形誘電率ポテンショメトリ、自発分極

走査型非線形誘電率ポテンショメトリにおいて測定電位の距離依存性から自発分極の分極電荷密度を求められる可能性がある.本報告ではGaNの自発分極の測定を試みた結果について報告する.