[14p-414-1~17] 6.6 プローブ顕微鏡

[14p-414-4] ∂C/∂z-SNDM法によるナノスケール線形誘電率分布の定量測定

〇平永 良臣¹、茅根 慎通¹、長 康雄¹ (1.東北大通研)

キーワード：誘電率、走査型非線形誘電率顕微鏡、走査型プローブ顕微鏡