2017年第64回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

6 薄膜・表面 » 6.3 酸化物エレクトロニクス

[14p-419-1~16] 6.3 酸化物エレクトロニクス

2017年3月14日(火) 13:30 〜 18:00 419 (419)

福地 厚(北大)、小塚 裕介(東大)

15:15 〜 15:30

[14p-419-7] トポタクティックフッ素導入/酸素アニールによるNdNiO3薄膜の可逆的抵抗制御

〇(DC)小野塚 智也1、近松 彰1、片山 司1、廣瀬 靖1,2、原山 勲3、関場 大一郎3、池永 英司4、簑原 誠人5、組頭 広志5、長谷川 哲也1,2 (1.東大院理、2.KAST、3.UTTAC、4.JASRI、5.KEK-PF)

キーワード:パルスレーザー堆積法、酸フッ化物、トポタクティック反応