[14p-F201-1~14] 15.7 Crystal evaluation, impurities and crystal defects

[14p-F201-2] Efficient mapping using a data-driven approach (2)

〇Kentaro Kutsukake¹, Ryota Kikuchi², Momoko Deura¹, Yutaka Ohno¹, Koji Shimoyama², Ichiro Yonenaga¹ (1.IMR, Tohoku Univ., 2.IFS, Tohoku Univ.)

Keywords:mapping, data-driven, optimization

測定物理量の空間分布を求めるマッピング測定は、理工研究では極めて基礎的な測定である。我々は、効率的なマッピング(より少ない測定点数からより確からしい物理量分布を得る)を目指して、データ科学的手法を検討している。本発表では応答曲面近似とマッピング座標の逐次決定を太陽電池用シリコンのキャリア寿命分布測定に応用した結果を報告する。