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[15a-411-5] LSW理論に基づくSiO2薄膜中のナノ結晶Siの粒径予測
キーワード:ナノ結晶シリコン、スパッタ、LSW理論
サファイア基板上にスパッタ法により成膜したSi-rich oxcide薄膜を熱処理することでnanocrystalline(nc)-Siを形成し、光学バンドギャップ(Eg)の熱処理条件依存性を評価した。Egからnc-Siの結晶粒径を算出し、LSW理論式から理論的に導いたnc-Siの結晶粒径と比較した。XPS測定によりSiO2薄膜中での結合と組成を測定し、SiとOの組成比からLSW理論に用いる定数項を導出した。アニール時間の増大とともにEgの減少、粒径の増大、PLピークのレッドシフトを観測した。