[15a-416-1~10] 12.3 機能材料・萌芽的デバイス

[15a-416-2] Time of Flight法を用いたチオフェン骨格を有する双連続キュービック液晶の電荷キャリア易動度評価

〇向後 潤一^1,2、横山 昌憲²、Christian Dressel³、石川 謙²、Carsten Tschierske³、荒岡 史人¹ (1.理研 CEMS、2.東工大院、3.MLU)

キーワード：液晶、電荷キャリア易動度、双連続キュービック相

3次元伝導パスを有する双連続キュービック液晶における電荷キャリア易動度をTime of Flight法で測定し、キュービック相、等方相における易動度の温度依存性を評価した。易動度の温度依存性、キャリアの種類による依存性などのこれらの傾向から、キュービック液晶相中の伝導が、従来報告されているイオン伝導機構ではなくホッピング機構によるものであることが示唆された。