[15p-302-1~7] 有機薄膜素子作製その場観察技術の展望－ 「作って測る」から「作りながら測る」へ －

[15p-302-6] 各種分光学的手法を用いた有機半導体デバイスのオペランド測定

〇間中 孝彰¹ (1.東工大)

キーワード：有機半導体デバイス、オペランド測定