2017年第64回応用物理学会春季学術講演会

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[15p-304-1~10] 長期保管メモリのための高信頼配線技術

2017年3月15日(水) 13:15 〜 18:00 304 (304)

横川 慎二(電通大)、近藤 英一(山梨大)

13:30 〜 14:15

[15p-304-2] 超長期保管メモリ・システムの必要性とその課題
-高信頼配線の必用性-

小林 敏夫1 (1.芝浦工大)

キーワード:メモリ、長期間、保存

現在、デジタル技術の利便性の影で、デジタルデータの長期保管が危機に直面している。生成されるデータ量は爆発に増大し、それに伴い保管すべきデータ量も飛躍的に増えている。今、妥当なコストで長期保存を可能とする技術基盤を議論する時期に来ている。半導体不揮発性メモリ技術はこの問題を解決できる可能性がある。最大の課題は配線の超長期信頼性にある。超長期保存メモリの潜在需要は膨大で、巨大な潜在市場がある。