2017年第64回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.8 化合物及びパワー電子デバイス・プロセス技術

[15p-315-1~17] 13.8 化合物及びパワー電子デバイス・プロセス技術

2017年3月15日(水) 13:15 〜 17:45 315 (315)

重川 直輝(大阪市立大)、岡田 浩(豊橋技科大)

17:15 〜 17:30

[15p-315-16] ダブルNO2ホールドーピングした水素終端ダイヤモンドMOS FETの連続動作

〇(M1)舟木 浩祐1、石松 裕真1、桝谷 聡士1、大島 孝仁1、嘉数 誠1、大石 敏之1 (1.佐賀大院工)

キーワード:ダイヤモンド、電界効果トランジスタ(FET)、ストレス試験

ダイヤモンドは高い絶縁破壊電界,ホール移動度,熱伝導率を有するため,次世代のパワーデバイスとして期待されている.しかし,従来の水素終端ダイヤモンドMOSFETは急速に劣化するという報告がなされている.我々はAl2O3保護膜で水素終端ホールチャンネルを熱的に安定化できることを報告したが,今回Al2O3保護膜を用い,連続動作する水素終端ダイヤモンドMOSFETを作製したので報告する.