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[15p-P11-3] 大面積イオンビームミリング用バケット型RFイオン源の開発
キーワード:イオン源、高周波、イオンビームミリング
イオンビームミリング装置では、バケット型イオン源から最大直径580mmのイオンビームを引き出し、MEMS微細加工、半導体の配線・電極加工、磁気ヘッド、プリンターヘッドの微細加工等に応用されている。本講演では、数百時間連続運転のため開発したバケット型RFイオン源に関し述べる。加速電圧1kVで、直径約300mmの大面積Ar+ビーム、イオン電流密度1mA/cm2を達成。酸素他の活性イオン種も可能。