2017年第64回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(ポスター講演)

13 半導体 » 13.3 絶縁膜技術

[15p-P14-1~11] 13.3 絶縁膜技術

6.1と13.3と13.5のコードシェアセッションあり

2017年3月15日(水) 16:00 〜 18:00 P14 (展示ホールB)

16:00 〜 18:00

[15p-P14-2] SiO2の高温動特性に対するSiOの効果の検討

矢島 雄司1、影島 博之1,4、白石 賢二2,4、遠藤 哲郎3,4 (1.島根大、2.名古屋大、3.東北大、4.JST-ACCEL)

キーワード:シリコン酸化膜

平面型半導体の極微細化に伴う問題を解決するため、縦型BC-MOSFETが考案された。縦型BC-MOSFETのゲート酸化膜に使われるシリコンの三次元での酸化は二次元の酸化とは異なることが既に知られていて、またその際の三次元の酸化過程の詳細はまだ知られていない。今稿では三次元の場合のシリコンの熱酸化過程での特性やメカニズムを調べる前段階として高温条件下でのSiO2の動特性とそれに対するSiOの効果を検討した。