[16a-213-1~7] 16.1 基礎物性・評価・プロセス・デバイス

[16a-213-2] IPES/PYSを用いた非晶質半導体の基礎吸収端特性の評価

〇菅田 知宏¹、清水 耕作¹ (1.日大生産工)

キーワード：バンドギャップ