[16a-424-1~7] CS.4 7. Code-sharing Session: Beam Technology and Nanofabrication

△ [16a-424-4] Mass analyses of clusters exit from ion channels covered with ferrocene in incidence of C₆₀ ions

〇Tomoki Tachikawa¹, Takashi Uchida¹, Kenji Motohashi² (1.Toyo Univ, 2.Toyo Univ)

Keywords:fullerene, comprehension atoms

本研究はフェロセンで覆われたイオン流路にC₆₀イオンビームを入射した際の多重散乱過程を利用して，鉄原子内包フラーレンの効率的生成および単離法の開発を試みるのが目的である。イオン流路を傾けることにより、出射イオンの質量分布のピークがC₆₀フラーレン相当の720uから760uにシフトした。さらに，ICP-MSによる分析の結果，出射粒子を堆積した基板と，非堆積の基板の間で鉄原子の量に有意な差を確認した。