2017年第64回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

CS コードシェアセッション » CS.4 7. コードシェアセッション:ビーム応用大分類

[16a-424-1~7] CS.4 7. コードシェアセッション:ビーム応用大分類

2017年3月16日(木) 10:00 〜 12:00 424 (424)

田川 雅人(神戸大)、辻 博司(京大)

11:00 〜 11:15

[16a-424-4] フェロセンで覆われたイオン流路にC60イオンを入射した際の出射粒子の質量分析

立川 知樹1、内田 貴司1、本橋 健次2 (1.東洋大学大学院学際、2.東洋大理工)

キーワード:フラーレン、原子内包

本研究はフェロセンで覆われたイオン流路にC60イオンビームを入射した際の多重散乱過程を利用して,鉄原子内包フラーレンの効率的生成および単離法の開発を試みるのが目的である。イオン流路を傾けることにより、出射イオンの質量分布のピークがC60フラーレン相当の720uから760uにシフトした。さらに,ICP-MSによる分析の結果,出射粒子を堆積した基板と,非堆積の基板の間で鉄原子の量に有意な差を確認した。