[16a-P5-1~15] 15.6 IV族系化合物（SiC）

[16a-P5-9] 高温環境によるSiC MOSFETsのガンマ線照射劣化の抑制

〇武山 昭憲¹、松田 拓磨^1,2、三友 啓^1,2、村田 航一^1,2、牧野 高紘¹、小野田 忍¹、大久保 秀一³、田中 雄季³、神取 幹郎³、吉江 徹³、土方 泰斗²、大島 武¹ (1.量研機構、2.埼玉大院理工研、3.サンケン電気)

キーワード：炭化ケイ素、金属－酸化物－半導体電界効果トランジスタ、ガンマ線照射