2017年第64回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

3 光・フォトニクス » 3.8 光計測技術・機器

[16p-418-1~17] 3.8 光計測技術・機器

2017年3月16日(木) 13:15 〜 17:45 418 (418)

塩田 達俊(埼玉大)、安田 正美(産総研)

14:00 〜 14:15

[16p-418-4] 多点ファイババンドルによる画像変換を用いたチャープコムのスペクトル干渉によるワンショット3次元形状計測

〇(M1)内田 めぐみ1,2、加藤 峰士1,2、田中 優理奈1、美濃島 薫1,2 (1.電通大、2.JST, ERATO美濃島知的光シンセサイザ)

キーワード:光コム、3次元計測、ファイババンドル

我々の研究グループでは、チャープした光コムのスペクトル干渉によるワンショット瞬時3次元形状計測の開発を行ってきた。今回は、測定対象の空間情報を持った2次元スペクトル干渉縞画像の取得に、大幅に多点化したマルチモ―ドファイババンドルによる画像変換を用いることで、画像の多点化と高分解能化、及びパワー利用効率の向上を目指した。