[16p-E206-1~17] 13.1 Si系基礎物性・表面界面・シミュレーション

△ [16p-E206-7] X線照射によるSiO2表面帯電の自発的補償機構の解明に向けた試料電流測定

〇張江 貴大^1,2、小林 大輔²、山本 知之¹、廣瀬 和之^1,2 (1.早大理工、2.宇宙研)

キーワード：X線光電子分光法、チャージアップ、電子輸送